ข่าว บริษัท เกี่ยวกับ รายการทดสอบอายุและข้อควรระวังของชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์

รายการทดสอบอายุและข้อควรระวังของชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์

ในระหว่างการประมวลผลของผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์ เนื่องจากการประมวลผลที่ซับซ้อนและการใช้วัสดุส่วนประกอบอย่างกว้างขวาง ทั้งข้อบกพร่องในการประมวลผลและข้อบกพร่องของส่วนประกอบสามารถแบ่งออกเป็นข้อบกพร่องที่เห็นได้ชัดและข้อบกพร่องที่อาจเกิดขึ้นข้อบกพร่องที่ชัดแจ้ง หมายถึง ข้อบกพร่องเหล่านั้นที่ทำให้ผลิตภัณฑ์ไม่สามารถทำงานได้ตามปกติ เช่น ไฟฟ้าลัดวงจร / วงจรเปิด

ข้อบกพร่องที่อาจเกิดขึ้นทำให้ผลิตภัณฑ์ถูกใช้งานชั่วคราว แต่ข้อบกพร่องจะถูกเปิดเผยในไม่ช้าในการใช้งาน และผลิตภัณฑ์ไม่สามารถทำงานได้ตามปกติไม่พบข้อบกพร่องที่อาจเกิดขึ้นได้ด้วยวิธีการตรวจสอบแบบเดิม แต่จะขจัดออกด้วยวิธีอายุมากขึ้น

หากผลของวิธีการชราภาพไม่ดี ข้อบกพร่องที่อาจเกิดขึ้นซึ่งไม่ได้กำจัดออกไปในที่สุดจะปรากฏในรูปแบบของความล้มเหลวก่อนกำหนด (หรือความล้มเหลว) ระหว่างการใช้งานผลิตภัณฑ์ ส่งผลให้อัตราการซ่อมแซมผลิตภัณฑ์และค่าบำรุงรักษาเพิ่มขึ้น

แนวคิด:

การเผาไหม้หมายถึงการใช้ความเครียดจากสิ่งแวดล้อมอย่างต่อเนื่องกับส่วนประกอบที่อุณหภูมิแวดล้อมที่แน่นอนเป็นเวลานานหน้าจอแสดงความเครียดจากสิ่งแวดล้อม (ESS) ไม่เพียงแต่มีความเค้นจากอุณหภูมิสูงเท่านั้น แต่ยังรวมถึงความเค้นอื่นๆ อีกมากมาย เช่น วัฏจักรอุณหภูมิ การสั่นสะเทือนแบบสุ่ม ฯลฯ ผ่านการกระทำที่ครอบคลุมของความเครียดทางไฟฟ้าและจากความร้อนเพื่อเร่งความเร็วทางกายภาพต่างๆ กระบวนการปฏิกิริยาเคมีส่งเสริม การสัมผัสในช่วงต้นของข้อบกพร่องที่อาจเกิดขึ้นต่างๆ ที่ซ่อนอยู่ในส่วนประกอบ เพื่อขจัดผลิตภัณฑ์ที่ล้มเหลวในช่วงต้น

ผล:

1. มีผลการคัดกรองที่ดีสำหรับชุดของข้อบกพร่องที่อาจมีอยู่ในกระบวนการผลิต เช่น การปนเปื้อนบนพื้นผิว การเชื่อมตะกั่วที่ไม่ดี ช่องรั่ว รอยแตกของแผ่นเวเฟอร์ซิลิกอน ข้อบกพร่องของชั้นออกไซด์ และจุดร้อนในพื้นที่

1. สำหรับส่วนประกอบที่ไม่มีข้อบกพร่อง อายุยังช่วยให้พารามิเตอร์ทางไฟฟ้ามีเสถียรภาพอีกด้วย

รายการทดสอบอายุ:

1. การทดสอบการถ่ายภาพ:

การเสื่อมสภาพของแสงเป็นความเสียหายหลักของการเสื่อมสภาพของวัสดุภายนอกอาคาร และวัสดุในร่มก็จะมีอายุของแสงในระดับหนึ่งเช่นกันแหล่งกำเนิดแสงจำลองหลักสามแหล่งมีข้อดีของตัวเองหลอดไฟอาร์คคาร์บอนถูกคิดค้นและใช้งานครั้งแรก และระบบการวัดได้ถูกสร้างขึ้นก่อนหน้านี้หลอดไฟอาร์คคาร์บอนถูกนำมาใช้ในมาตรฐานของญี่ปุ่นและมาตรฐานวัสดุเส้นใยจำนวนมากอย่างไรก็ตาม เนื่องจากราคาสูงและประสิทธิภาพที่ไม่เสถียรของหลอดอาร์คคาร์บอน (ต้องเปลี่ยนหลอดหลอดไฟหลังจากใช้งาน 90 ชั่วโมง) จึงค่อยๆ แทนที่ด้วยหลอดไฟซีนอนอาร์คและหลอดไฟอัลตราไวโอเลตหลอดไฟซีนอนมีข้อดีอย่างมากในการจำลองแสงธรรมชาติ และราคาค่อนข้างต่ำเหมาะสำหรับผลิตภัณฑ์ส่วนใหญ่

หลอด UV ผลิตแสงที่ต่ำกว่า 400 นาโนเมตร ซึ่งสามารถเร่งความเสียหายของรังสีอัลตราไวโอเลตต่อวัสดุในแสงธรรมชาติจำลองได้ดีขึ้นปัจจัยการเร่งความเร็วจะสูงกว่าหลอดซีนอน และความเสถียรของแหล่งกำเนิดแสงดีกว่าหลอดซีนอน แต่ง่ายต่อการสร้างความเสียหายให้กับแสงที่ส่งออกไป (โดยเฉพาะหลอด UVB)

ขอบเขตการใช้งานหลัก: ยางและพลาสติก ผลิตภัณฑ์เคลือบและหมึกสำหรับใช้กลางแจ้งและในร่ม เปลือกอุปกรณ์ เช่น อุปกรณ์สื่อสารและเครื่องใช้ไฟฟ้า ชิ้นส่วนรถยนต์ และอุปกรณ์รถจักรยานยนต์

2. อายุความร้อน

มาตรฐานอ้างอิงหลัก: GB / T 7141, ASTM D3045, JIS K 6257 เป็นต้น

กล่องอบความร้อนมีฟังก์ชันโปรแกรม และสามารถตั้งค่าการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิผ่านโปรแกรมได้ ซึ่งเหมาะสำหรับความต้องการอายุเนื่องจากความร้อนของผลิตภัณฑ์ต่างๆ

ขอบเขตการใช้งานหลัก: การทดสอบการเสื่อมสภาพของความร้อนของผลิตภัณฑ์ต่างๆ เช่น บอร์ด PCB ฉนวนยางในเครื่องใช้ไฟฟ้า ผลิตภัณฑ์ที่มีอายุการใช้งานยาวนาน (เช่น วัสดุแจ็คเก็ตสำหรับสะพานแขวน มีอายุการใช้งานมากกว่า 20 ปี) เป็นต้น เพื่อตรวจสอบการเปลี่ยนแปลงประสิทธิภาพของผลิตภัณฑ์และความน่าเชื่อถือของผลิตภัณฑ์ด้วยระยะเวลาการให้บริการ

3. ความร้อนชื้น

มาตรฐานอ้างอิงหลัก: มาตรฐานทั่วไป ได้แก่ GB / T 15905, GB / T 2573 เป็นต้น

นอกจากนี้ เส้นโค้งการเปลี่ยนแปลงของความชื้นและอุณหภูมิสามารถกำหนดได้ตามมาตรฐานผลิตภัณฑ์และมาตรฐานองค์กรที่แตกต่างกัน ซึ่งเหมาะสำหรับการทดสอบอายุความร้อนชื้นที่ซับซ้อนต่างๆระหว่างการใช้ผลิตภัณฑ์ จะได้รับผลกระทบจากทั้งอุณหภูมิและความชื้นได้ง่ายสำหรับวัสดุที่ไวต่อน้ำบางชนิด เช่น สัตว์เลี้ยงและ PBT จำเป็นต้องทำการทดสอบการเสื่อมสภาพด้วยความร้อนแบบชื้นเพื่อประเมินว่าเหมาะสำหรับการใช้งานในระยะยาวในสภาพแวดล้อมที่มีความชื้นหรือไม่

4. เกลือสเปรย์ aging

มาตรฐานอ้างอิงหลัก: GB / T 10125, GB / T 12000 , ASTM d117, jisz2371 และมาตรฐานอื่นๆ

ทดสอบสเปรย์เกลือเป็นกลาง สเปรย์เกลือกรด และสเปรย์เกลือเร่งคอปเปอร์ไอออนส่วนใหญ่จะใช้เพื่อจำลองการกัดกร่อนของโซเดียมคลอไรด์ที่ละลายในไอน้ำในบรรยากาศบนสารเคลือบ สารเคลือบ และช่วงการป้องกันอื่นๆ ตลอดจนวัสดุที่เป็นโลหะ โดยเฉพาะอย่างยิ่งในพื้นที่ชายฝั่งทะเลและพื้นที่รอบทะเลสาบเกลือในแผ่นดินเกลือในอากาศอยู่ในระดับสูง และผลิตภัณฑ์นั้นง่ายต่อการสึกกร่อนด้วยสเปรย์เกลือ

ผลิตภัณฑ์หลักที่ใช้บังคับ: สารเคลือบทุกชนิด เช่น สารเคลือบผนังภายนอกสถาปัตยกรรม สารเคลือบสำหรับเรือ สารเคลือบภาชนะ ฯลฯ

5. อายุของโอโซน

มาตรฐานอ้างอิงหลัก: GB / T 7762, GB / T 24134, GB / T 13642, Hg / T 2869, JIS K 6259, ASTM D 1149

ตรวจสอบความต้านทานโอโซนของยางเป็นหลัก (ยางมีพันธะคู่จำนวนมาก ซึ่งเสี่ยงต่อการโจมตีของโอโซน โดยเฉพาะอย่างยิ่งในการใช้งานแบบไดนามิกหรือการยืดตัว ความเสียหายของโอโซนต่อยางมีความรุนแรงมากขึ้น) และยังตรวจสอบความต้านทานโอโซนของอีลาสโตเมอร์ใหม่ เช่น TPU และ EPDM

6. รอบอุณหภูมิสูงและต่ำ

มาตรฐานอ้างอิงหลัก: GB / T 2423, JG / T 25 วิธีการกำหนดความต้านทานวงจรการแช่แข็งและละลายของสารเคลือบสถาปัตยกรรมและมาตรฐานอื่นๆการทดสอบสามารถทำได้ตามวิธีการทดสอบที่เกี่ยวข้องของวัฏจักรอุณหภูมิสูงและต่ำ และรอบการแช่แข็ง-ละลายในมาตรฐานผลิตภัณฑ์ต่างๆส่วนใหญ่จะใช้สำหรับการทดสอบการเคลือบอาคารและอุปกรณ์ที่ใช้ในสภาพแวดล้อมพิเศษ

ข้อควรระวังสำหรับการทดสอบอายุของชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์:

เพื่อให้บรรลุผลการแก่ก่อนวัยที่น่าพอใจ ควรสังเกตประเด็นต่อไปนี้:

① อุปกรณ์สำหรับผู้สูงอายุต้องมีมาตรการที่ดีในการป้องกันการสั่นไหวในตัวเอง

② เมื่อแรงดันไฟฟ้าถูกนำไปใช้กับอุปกรณ์ ควรเพิ่มขึ้นอย่างช้าๆ จากศูนย์ และลดลงอย่างช้าๆ เมื่อแรงดันไฟฟ้าถูกถอดออก มิฉะนั้น ชีพจรที่เกิดขึ้นทันทีที่เกิดจากการเปลี่ยนแปลงแรงดันไฟฟ้าของแหล่งจ่ายไฟอย่างกะทันหันอาจทำให้อุปกรณ์เสียหายได้หลังจากการเสื่อมสภาพ จะต้องวัดในเวลาภายในเวลาที่กำหนดในมาตรฐานหรือข้อกำหนด มิฉะนั้น พารามิเตอร์บางอย่างที่อยู่นอกเหนือความคลาดเคลื่อนในระหว่างการบ่มจะกลับไปเป็นค่าเดิม

③ เพื่อให้แน่ใจว่าทรานซิสเตอร์สามารถมีอายุที่อุณหภูมิทางแยกสูงสุด ควรวัดความต้านทานความร้อนของทรานซิสเตอร์อย่างแม่นยำ

สำหรับวงจรรวม เนื่องจากแรงดันและกระแสใช้งานมีจำกัด อุณหภูมิทางแยกที่เพิ่มขึ้นจึงน้อยมากเป็นการยากที่จะไปถึงอุณหภูมิที่จำเป็นสำหรับการชราภาพอย่างมีประสิทธิภาพโดยไม่เพิ่มอุณหภูมิแวดล้อมดังนั้นการคงอายุพลังงานไฟฟ้าสถิตที่อุณหภูมิปกติจึงถูกนำไปใช้ในวงจรรวมบางวงจรเท่านั้น (วงจรเชิงเส้นและวงจรดิจิตอล)